電子束與固體樣品作用時(shí)，會(huì)產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

關(guān)于stokes線和anti-Stokes線，說法正確的是（）。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測(cè)定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點(diǎn)分布在（）半徑的倒易球上。

紅外光分為（）。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對(duì)測(cè)試結(jié)果沒有影響。

X射線衍射儀中，通常用于測(cè)定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測(cè)定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為（）。

孔徑半角越小，衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。