A、縱波；
B、壓縮波；
C、橫波；
D、表面波。
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、脈沖寬度；
B、脈沖振幅；
C、脈沖形狀；
D、反射。
A、連續(xù)波；
B、直流峰值電壓；
C、超聲波；
D、電脈沖或脈沖。
A、入射角；
B、折射角；
C、缺陷取向；
D、上述三種都不對(duì)。
A、角度調(diào)整；
B、散射；
C、折射；
D、擴(kuò)散。
A、角度調(diào)整；
B、掃描；
C、距離-幅度變化修正；
D、標(biāo)定。
最新試題
儀器水平線性影響（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
（）是影響缺陷定量的因素。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。