A、角度調(diào)整；
B、掃描；
C、距離-幅度變化修正；
D、標(biāo)定。
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A.密度
B.聲阻抗
C.晶粒度
D.表面粗糙度
A.各種類型
B.具有平行底面
C.上下表面不平行
D.無(wú)底波
A.近場(chǎng)區(qū)
B.聲束擴(kuò)散角以外的區(qū)域
C.從檢測(cè)面到能夠發(fā)現(xiàn)缺陷的最小距離
D.始脈沖寬度
A.實(shí)際長(zhǎng)度
B.指示長(zhǎng)度
C.測(cè)量長(zhǎng)度
D.相對(duì)長(zhǎng)度
A.缺陷定位的準(zhǔn)確度
B.缺陷測(cè)長(zhǎng)的準(zhǔn)確度
C.缺陷測(cè)高的準(zhǔn)確度
D.缺陷定量的準(zhǔn)確度
A.可不考慮檢測(cè)耦合差補(bǔ)償
B.適用于檢測(cè)的聲程小于等于3N
C.可不使用試塊
D.缺陷定量可采用計(jì)算法或AVG曲線法
A.評(píng)定靈敏度
B.檢測(cè)靈敏度
C.掃查靈敏度
D.定量靈敏度
A.l=S×cosβ
B.l=S×sinβ
C.l=S×tanβ
D.l=S×cotβ
A.當(dāng)量法
B.測(cè)長(zhǎng)法
C.半波高度法
D.絕對(duì)靈敏度法
A.半波高度法
B.端點(diǎn)6dB法
C.端點(diǎn)峰值法
D.絕對(duì)靈敏度法
最新試題
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。