A、Q值較小
B、靈敏度較低
C、頻帶較寬
D、以上全部
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、垂直線性
B、動(dòng)態(tài)范圍
C、靈敏度
D、以上全部
A、幾百伏
B、100伏左右
C、十伏左右
D、0.001~1伏
A.幾百伏到上千伏
B.幾十伏
C.幾伏
D.1伏
A、觸發(fā)電路
B、掃描電路
C、同步電路
D、發(fā)射電路
A、發(fā)射電路
B、掃描電路
C、同步電路
D、標(biāo)距電路
最新試題
缺陷分類應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。
觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。
在射線照相檢驗(yàn)中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。
對(duì)含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()
為了提高射線照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
X射線檢測(cè)人員健康體檢為每()年一次。
探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即()。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家()
一次完整的兩面多層補(bǔ)焊,當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過一次X射線檢測(cè),若反面還需打底,則無需X射線檢測(cè)。