A、穿透性差
B、雜波干擾大
C、定量困難
D、上述都對
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A、cosβ=K
B、sinβ=K
C、tanβ=K
D、arctanβ=K
A、1/4波長
B、1/2波長
C、與波長相當(dāng)
D、1/4波長的整數(shù)倍
A、AVG
B、DVG
C、BVG
D、EVG
A、AVG
B、DVG
C、BVG
D、EVG
A、TOFD
B、TUFD
C、TFFD
D、TAFD
最新試題
采用兩個斜探頭(一收一發(fā))交叉()的掃查方式叫做交叉掃查。
探傷中遇鋼軌焊補(bǔ)時,執(zhí)機(jī)人員必須“站??床ā痹诒3炙砍渥愕那闆r下,探傷靈敏度應(yīng)提高()。
耦合劑應(yīng)選擇容易附著在試件的表面上,有足夠的浸潤性以排除()之間由于表面粗糙造成的空氣間隙。
垂直法局部掃查即探頭在整個面上按規(guī)定,并事先劃出的線上移動,相鄰掃查線的間距往往()探頭直徑。
通用儀器對焊補(bǔ)層的下核傷是以核傷最高反射回波的80%再增益12dB作為校對靈敏度,以最大回波顯示的刻度來確定()。
鋼軌曲線上股由于接觸疲勞強(qiáng)度不足,形成軌頭表面剝離,一般剝離層深度為()左右。
探頭移動過程中同時作()轉(zhuǎn)動,稱為擺動掃查。
剝離層下核傷可采用軌顎法進(jìn)行校對,用軌顎校對法校對時,需在鋼軌表面校對的靈敏度的基礎(chǔ)上增加()。
在探傷中選用較高的頻率,將會使得()因而發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力強(qiáng),可提高對缺陷的定位精度。
由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同,可能缺陷的()不一樣,因而探測面可能是試件的所有面,也可能是其中的幾個面,甚至只有一個可探測面。