A、正常焊縫
B、正常母材
C、試塊
D、上述都不對(duì)
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A、L=S•sinβ
B、L=h•tanβ
C、L=K•h
D、上述都對(duì)
A、≤1°
B、≤1.5°
C、≤2°
D、≤2.5°
A、≤1°
B、≤1.5°
C、≤2°
D、≤2.5°
A、JB/T10062—1999
B、JB/T10061—1999
C、TB/T1632.1—2005
D、TB/T2340—2000
A、≤1%
B、≤2%
C、≤3%
D、≤4%
最新試題
探傷中探頭晶片尺寸增加,相應(yīng)的()對(duì)探傷有利。
由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同,可能缺陷的()不一樣,因而探測(cè)面可能是試件的所有面,也可能是其中的幾個(gè)面,甚至只有一個(gè)可探測(cè)面。
探傷掃查過程中,探頭的方向應(yīng)根據(jù)()進(jìn)行布局和掃查。
金相也可通過掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得,他們主要是用來觀察材料的位錯(cuò),放大倍數(shù)一般為()倍。
探傷中遇鋼軌焊補(bǔ)時(shí),執(zhí)機(jī)人員必須“站??床ā痹诒3炙砍渥愕那闆r下,探傷靈敏度應(yīng)提高()。
60kg/m與75kg/m軌頭寬度極限偏差為()
根據(jù)接頭鋼軌下顎裂紋形成的原因,可知其具有從()逐步擴(kuò)展的特點(diǎn)。
用斜探頭三次波對(duì)某一厚度為15mm,焊縫寬度為44mm進(jìn)行探測(cè),應(yīng)選擇K值為()的探頭合適。
在橫波探傷中,探頭K值對(duì)探傷()有較大的影響。
垂直法探傷時(shí),對(duì)要求不太高的工件常采用局部法進(jìn)行掃查,局部法掃查一般分為()。