單項(xiàng)選擇題一個(gè)垂直線性好的探傷儀,熒光屏上波幅從80%處降至5%時(shí),應(yīng)衰減()。
A、6dB
B、8dB
C、12dB
D、24dB
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1.單項(xiàng)選擇題缺陷所反射的聲能量大小取決于()。
A、缺陷大小
B、缺陷取向
C、缺陷類型
D、上述都對(duì)
2.單項(xiàng)選擇題超聲波垂直入射到兩種介質(zhì)的界面上,如果兩種介質(zhì)的聲阻抗差別很小,則聲壓反射率()。
A、很大
B、很小
C、與兩種介質(zhì)有關(guān)
D、與聲速有關(guān)
最新試題
探傷工藝規(guī)程編制的內(nèi)容有很多,其中包括()。
題型:多項(xiàng)選擇題
使用雙探頭掃查時(shí),如盲目改變掃查方向,將會(huì)導(dǎo)致()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
超聲波探傷探頭的型式一般有()等。
題型:多項(xiàng)選擇題
由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同,可能缺陷的()不一樣,因而探測(cè)面可能是試件的所有面,也可能是其中的幾個(gè)面,甚至只有一個(gè)可探測(cè)面。
題型:多項(xiàng)選擇題
探傷中采用軌頭側(cè)面校對(duì)法,它主要適用于()的校對(duì)。
題型:多項(xiàng)選擇題
垂直法局部掃查即探頭在整個(gè)面上按規(guī)定,并事先劃出的線上移動(dòng),相鄰掃查線的間距往往()探頭直徑。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
通用儀器對(duì)焊補(bǔ)層的下核傷是以核傷最高反射回波的80%再增益12dB作為校對(duì)靈敏度,以最大回波顯示的刻度來(lái)確定()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
探傷工藝規(guī)程編制應(yīng)對(duì)受檢工件的()做好記錄。
題型:多項(xiàng)選擇題
在橫波探傷中,探頭K值對(duì)探傷()有較大的影響。
題型:多項(xiàng)選擇題
探傷中對(duì)工件材料的()有一定的要求。
題型:多項(xiàng)選擇題