單項(xiàng)選擇題一個(gè)垂直線性好的探傷儀,熒光屏上波幅從80%處降至5%時(shí),應(yīng)衰減()。

A、6dB
B、8dB
C、12dB
D、24dB


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最新試題

探傷工藝規(guī)程編制的內(nèi)容有很多,其中包括()。

題型:多項(xiàng)選擇題

使用雙探頭掃查時(shí),如盲目改變掃查方向,將會(huì)導(dǎo)致()。

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由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同,可能缺陷的()不一樣,因而探測(cè)面可能是試件的所有面,也可能是其中的幾個(gè)面,甚至只有一個(gè)可探測(cè)面。

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垂直法局部掃查即探頭在整個(gè)面上按規(guī)定,并事先劃出的線上移動(dòng),相鄰掃查線的間距往往()探頭直徑。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

通用儀器對(duì)焊補(bǔ)層的下核傷是以核傷最高反射回波的80%再增益12dB作為校對(duì)靈敏度,以最大回波顯示的刻度來(lái)確定()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

探傷工藝規(guī)程編制應(yīng)對(duì)受檢工件的()做好記錄。

題型:多項(xiàng)選擇題

在橫波探傷中,探頭K值對(duì)探傷()有較大的影響。

題型:多項(xiàng)選擇題

探傷中對(duì)工件材料的()有一定的要求。

題型:多項(xiàng)選擇題