A.缺陷越大，AVG曲線越適用
B.越接近探頭的區(qū)域，AVG曲線越準確
C.從AVG曲線上確定的缺陷當量與實際缺陷完全一致
D.在AVG曲線上，由于探頭附近的種種干擾，限制了這一距離內(nèi)的缺陷回波的辯認或評定， 因而存在最小可測距離的限制
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A.缺陷自身的形狀與人工缺陷不同
B.缺陷的方向有隨機性
C.缺陷的表面狀態(tài)及組成介質(zhì)與人工缺陷不同
D.上述原因全有
A.螢光屏上剛剛顯示出來
B.回波高度飽和
C.螢光屏滿高度的50%~80%
D.以上全都可以
A.取界面波與第一次底波間的聲程。
B.最后兩次底波間的聲程。
C.取底面回波次數(shù)愈多，測定結果的精度愈高。
D.取第三次與第四次底波間的聲程。
A.發(fā)射脈沖寬度
B.放大器阻塞時間
C.探頭性能及儀器調(diào)整
D.以上都是
A.探頭靈敏度不夠
B.儀器水平線性的偏差
C.儀器垂直線性的偏差
D.耦合劑使用不當
最新試題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做（）。
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
關于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。