A.缺陷自身的形狀與人工缺陷不同
B.缺陷的方向有隨機性
C.缺陷的表面狀態(tài)及組成介質(zhì)與人工缺陷不同
D.上述原因全有
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A.螢光屏上剛剛顯示出來
B.回波高度飽和
C.螢光屏滿高度的50%~80%
D.以上全都可以
A.取界面波與第一次底波間的聲程。
B.最后兩次底波間的聲程。
C.取底面回波次數(shù)愈多,測定結(jié)果的精度愈高。
D.取第三次與第四次底波間的聲程。
A.發(fā)射脈沖寬度
B.放大器阻塞時間
C.探頭性能及儀器調(diào)整
D.以上都是
A.探頭靈敏度不夠
B.儀器水平線性的偏差
C.儀器垂直線性的偏差
D.耦合劑使用不當
A.頻率范圍、掃描深度、放大倍數(shù)。
B.頻率范圍、放大倍數(shù)、分辨率。
C.垂直線性、水平線性、分辨率。
D.重量、體積大小、靈敏度
最新試題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
利用底波計算法進行靈敏度校準時,適用的工件厚度為()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
調(diào)節(jié)時基線時,應(yīng)使()同時對準相應(yīng)的聲程位置。
()可以對管路、管道進行長距離檢測。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。