A.頻率范圍、掃描深度、放大倍數(shù)。
B.頻率范圍、放大倍數(shù)、分辨率。
C.垂直線性、水平線性、分辨率。
D.重量、體積大小、靈敏度
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A.使用低頻率
B.使用高頻率
C.使用直徑小的探頭
D.涂上粘性小的油
A.當(dāng)超聲波的波長(zhǎng)遠(yuǎn)大于金屬晶粒大小時(shí)
B.當(dāng)超聲波的波長(zhǎng)等于或小于金屬晶粒大小時(shí)
C.當(dāng)超聲波的頻率過(guò)低或晶粒過(guò)小時(shí)
D.當(dāng)螢光屏上不出現(xiàn)草從回波時(shí)
當(dāng)超聲波斜入射至界面時(shí)，發(fā)生反射與折射，并發(fā)生波型轉(zhuǎn)換，其關(guān)系遵守斯涅耳定律：
此定律適用范圍的正確說(shuō)法是（）
A.只適用于入射波是橫波的情況
B.只適用于入射波是縱波的情況
C.只適用于折射波是橫波的情況
D.適用于縱波與橫波的的折射與反射情況
A.提高探傷靈敏度及分辨力
B.增加穿透能力
C.與探傷儀匹配減小噪聲
D.提高抗干擾能力
最新試題
（）是影響缺陷定量的因素。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。