A.當(dāng)超聲波的波長(zhǎng)遠(yuǎn)大于金屬晶粒大小時(shí)
B.當(dāng)超聲波的波長(zhǎng)等于或小于金屬晶粒大小時(shí)
C.當(dāng)超聲波的頻率過(guò)低或晶粒過(guò)小時(shí)
D.當(dāng)螢光屏上不出現(xiàn)草從回波時(shí)
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當(dāng)超聲波斜入射至界面時(shí),發(fā)生反射與折射,并發(fā)生波型轉(zhuǎn)換,其關(guān)系遵守斯涅耳定律:
此定律適用范圍的正確說(shuō)法是()
A.只適用于入射波是橫波的情況
B.只適用于入射波是縱波的情況
C.只適用于折射波是橫波的情況
D.適用于縱波與橫波的的折射與反射情況
A.提高探傷靈敏度及分辨力
B.增加穿透能力
C.與探傷儀匹配減小噪聲
D.提高抗干擾能力
A.提高靈敏度
B.減小育區(qū),提高分辨力
C.增加探頭重量
D.以上都是
A.防止探頭磨損
B.消除水晶和金屬面之間的空氣
C.便于探頭移動(dòng)
D.以上全是
A.40
B.4
C.10
D.100
最新試題
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
單探頭法容易檢出()。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。