A.相互垂直
B.相互平行
C.相互交叉45°
D.以上都是
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A.面積
B.截面
C.正方立體
D.以上都不是
A.>50mm
B.>30mm
C.>20mm
D.>10mm
A.底面回波高度
B.有缺陷處的底面回波高度
C.無(wú)缺陷處的底面回波高度
D.缺陷回波高度
A.缺陷回波高度
B.底面回波高度
C.有缺陷處的底面回波高度
D.以上都是
A.平方面
B.方截面
C.正方體
D.以上都不是
最新試題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
儀器水平線(xiàn)性影響()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線(xiàn)所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線(xiàn)長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線(xiàn)時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。