A.>50mm
B.>30mm
C.>20mm
D.>10mm
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A.底面回波高度
B.有缺陷處的底面回波高度
C.無缺陷處的底面回波高度
D.缺陷回波高度
A.缺陷回波高度
B.底面回波高度
C.有缺陷處的底面回波高度
D.以上都是
A.平方面
B.方截面
C.正方體
D.以上都不是
A.≥30mm
B.≥25mm
C.≥20mm
D.≥15mm
A.JB3963-85
B.JB4730-2005
C.GB/T6402-91
D.以上都是
最新試題
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
單探頭法容易檢出()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。