A.靈敏度試塊
B.對(duì)比試塊
C.標(biāo)準(zhǔn)試塊
D.自然缺陷試塊
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A.前沿距離
B.K值
C.主聲束偏離、靈敏度余量和分辨率等
D.以上都是
A.每周
B.每個(gè)月
C.三個(gè)月
D.半年
A.100mm/s
B.150mm/s
C.200mm/s
D.50mm/s
A.5%
B.10%
C.15%
D.20%
A.±5%
B.±10%
C.±15%
D.±20%
最新試題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
()是影響缺陷定量的因素。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長距離檢測(cè)。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。