單項(xiàng)選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:每隔()至少對(duì)儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測(cè)定。
A.每周
B.每個(gè)月
C.三個(gè)月
D.半年
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1.單項(xiàng)選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:探頭的掃查速度不應(yīng)超過(),當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置時(shí),不受此限。
A.100mm/s
B.150mm/s
C.200mm/s
D.50mm/s
2.單項(xiàng)選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:探頭每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的()
A.5%
B.10%
C.15%
D.20%
3.單項(xiàng)選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于()
A.±5%
B.±10%
C.±15%
D.±20%
4.單項(xiàng)選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:晶片面積一般不大于(),且任一邊長原則上不大于25mm。
A.250mm2
B.400mm2
C.500mm2
D.625mm2
5.單項(xiàng)選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:水平線性誤差不大于()
A.1%
B.0.5%
C.2%
D.5%
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題