卡方檢驗(yàn)通常被用在（）、（）。

在實(shí)際問題中，當(dāng)我們無法區(qū)分在區(qū)間[a，b]內(nèi)取值的隨機(jī)變量X取不同值的可能性有何不同時(shí)，我們就可以假定X服從[a，b]上的（）。

有趨勢(shì)的時(shí)間序列預(yù)測(cè)應(yīng)用（）和（）。

當(dāng)檢驗(yàn)?zāi)撑a(chǎn)品質(zhì)量時(shí)，從這批產(chǎn)品中隨機(jī)每次抽取一件，共抽n次，而抽出每一件后均不放回到這批產(chǎn)品中去。那么共抽取n件產(chǎn)品試驗(yàn)中恰好有k件不合格品的概率服從（）。

方差分析簡(jiǎn)稱（），用于解決（）的檢驗(yàn)問題。 方差分析的對(duì)象稱為（）；因素的內(nèi)容稱為（）。

最小二乘法預(yù)測(cè)模型包括（）、（）和（）。

在產(chǎn)品抽樣檢驗(yàn)和控制圖分析中經(jīng)常用到（）。

許多電子產(chǎn)品的壽命分布一般服從（）。它在（）研究中是最常用的一種分布形式。

一元線性回歸用于研究一個(gè)（）和一個(gè)（）之間的統(tǒng)計(jì)關(guān)系。

（）適合于描述單位時(shí)間內(nèi)隨機(jī)事件發(fā)生的次數(shù)，并能作為（）的近似。