在體心點陣中，當（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時，產生系統(tǒng)消光。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導體、半導體和絕緣體材料的表面結構。

被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點分布在（）半徑的倒易球上。

熱分析中對樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進坩堝內，就可以獲得良好的測試結果。

在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

拉曼光譜分析時，1500cm-1以上的譜帶必定是一個基團的頻率，解釋通常是可靠的，一般可以確信其推論。

關于stokes線和anti-Stokes線，說法正確的是（）。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。