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材料分析測(cè)試技術(shù)問答題每日一練(2020.05.20)
來源:考試資料網(wǎng)
1.問答題
你如何用學(xué)過的光譜來分析確定乙炔是否已經(jīng)聚合成了聚乙炔?
參考答案:
可采用紅外光譜測(cè)試,觀察是否有共軛雙鍵生成;可采用紫外光譜測(cè)定,以確定是否有共軛雙鍵生成,以及一些共軛雙鍵長度的信息
2.問答題
若只含碳?xì)鋬煞N元素的一種不飽和有機(jī)物有三個(gè)雙鍵,如何用一種光譜來確定其雙鍵可能的排列類型?
參考答案:
三個(gè)雙鍵共軛、兩個(gè)共軛和三個(gè)雙鍵孤立三種狀況,其紫外光譜吸收蜂分別在177nm,210-230nm,260nm,由于三類...
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3.問答題
入射X射線比同樣能量的入射電子在固體中穿入深度大得多,而俄歇電子與X光電子的逸出深度相當(dāng),這是為什么?
參考答案:
入射電子激發(fā)的俄歇電子,只有表面幾個(gè)原子層產(chǎn)生的具有特征能量的俄歇電子才能逸出固體表面,被電子能譜儀檢測(cè)到。雖然入射X射...
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4.問答題
用單色X射線照射圓柱多晶體試樣,其衍射線在空間將形成什么圖案?為攝取德拜圖相,應(yīng)當(dāng)采用什么樣的底片去記錄?
參考答案:
用單色X射線照射圓柱多晶體試樣,其衍射線在空間將形成一組錐心角不等的圓錐組成的圖案;為攝取德拜圖相,應(yīng)當(dāng)采用帶狀的照相底...
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5.問答題
TEM通常將式樣制成薄膜、單晶或切成超薄切片的原因主要是什么?
參考答案:
試樣制備是為了使所要觀察的材料結(jié)構(gòu)經(jīng)過電鏡放大后不失真,并能得到所需的信息。透射電鏡是利用樣品對(duì)入射電子的散射能力的差異...
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