A.17μm~20μm 之間
B.6.5μm~17μm 之間
C.20μm~30μm 之間
D.30μm~40μm 之間
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.發(fā)光體的亮度
B.點、線、面光源
C.漫射光源
D.不同波長的可見光光源
A.只能檢驗鐵磁性材料
B.只能檢驗工件表面和近表面缺陷
C.受工件幾何形狀影響可能會產(chǎn)生非相關(guān)顯示
D.磁軛法磁化時,易產(chǎn)生電弧,燒傷工件
A.單相半波整流電
B.三相全波整流電
C.單相全波整流電
D.直流電
A.鍛造裂紋
B.鍛造折疊
C.白點
D.夾渣
A.磁軛法
B.固定式磁粉探傷儀
C.磁化線圈法
D.觸頭法
最新試題
下列缺陷可能影響無損檢測結(jié)果判斷的是:()。
在平底孔、短橫孔等靈敏度試塊上進行靈敏度調(diào)節(jié)的最終目的是為了實現(xiàn)缺陷的定量。
蒸汽發(fā)生器渦流檢查時發(fā)現(xiàn)傳熱管內(nèi)壁有異常信號,疑是內(nèi)部裂紋,用內(nèi)窺鏡進行復(fù)檢屬于:()。
標準NB/T 47013.4-2015規(guī)定,對焊接接頭的質(zhì)量分級中沒有提到的是:()。
焊縫磁粉檢驗時,磁痕特征為:磁粉沉積為點狀(橢圓狀)或粗短線條狀,磁粉堆積不緊密,較平直;條狀兩端不尖細,但有一定面積。這可能是:()。
原材料和零部件磁粉檢驗的磁化方法一般不推薦使用()。
若要檢出鑄鋼閥體表面和近表面缺陷,宜采用()。
檢測與工件軸線方向平行的缺陷時,不可使用的磁化方法是:()。
標準QJ2859-1996《工業(yè)內(nèi)窺鏡操作使用方法與判定規(guī)則》中規(guī)定,進行內(nèi)窺鏡檢測的產(chǎn)品溫度應(yīng)在:()。
蒸汽發(fā)生器二次側(cè)在役內(nèi)部目視檢驗前的準備工作包括:()。