單項(xiàng)選擇題用一臺時(shí)基線已準(zhǔn)確校正的超聲波儀器和斜探頭探測圓心無切的半圓試塊,第一次回波位于滿刻度為10的水平刻度3處,則圓弧面的第二次回波應(yīng)出現(xiàn)在水平刻度的()處。

A.5
B.7.5
C.8
D.9

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1.單項(xiàng)選擇題CSK-IB試塊將IIW試塊的φ50孔改為φ40、φ44、φ50臺階孔,其目的是方便用于()

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B.測定直探頭盲區(qū)范圍
C.測定橫波斜探頭的分辨力
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3.單項(xiàng)選擇題平底孔最常用作探測()的參考反射體。

A.焊縫
B.薄板
C.管材
D.鍛鑄件

4.單項(xiàng)選擇題長橫孔最常用作探測()的參考反射體。

A.焊縫
B.薄板
C.管材
D.鍛件

5.單項(xiàng)選擇題柱孔最常用作()檢測的參考反射體。

A.蘭姆波
B.縱波
C.橫波
D.除B以外

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最新試題

超聲檢測對缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。

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靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。

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()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。

題型:單項(xiàng)選擇題

探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。

題型:單項(xiàng)選擇題

縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。

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利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。

題型:單項(xiàng)選擇題

調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進(jìn)行()。

題型:單項(xiàng)選擇題

當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。

題型:單項(xiàng)選擇題

直接接觸法是指探頭與工件之間()。

題型:單項(xiàng)選擇題

移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。

題型:單項(xiàng)選擇題