變差

Ppk用于批量生產(chǎn)時(shí)對(duì)過程能力分析，Cpk用于批產(chǎn)前對(duì)過程能力的分析。

控制限

1924年，美國(guó)的品管大師休哈特（W.A.Shewhart）博士提出將3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過程當(dāng)中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”（亦稱為：Shewhart控制圖或3σ控制圖。即：一種以實(shí)際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗(yàn)所分析的過程能力的控制界限比較，而以時(shí)間順序表示出來的圖形）。通過對(duì)過程變差進(jìn)行控制，為統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。

當(dāng)X-MR圖中有連續(xù)9個(gè)點(diǎn)落在中心線同一側(cè)時(shí)，說明過程處于（）

σ

在“3σ”原則下，控制點(diǎn)落在µ-3σ到µ+3σ之間的概率是（）

當(dāng)過程能力不足時(shí)，為提高過程能力，應(yīng)進(jìn)一步減小普通原因和特殊原因造成的變差。

做初始能力研究時(shí)，Cp大于1.33，這臺(tái)機(jī)器能力可以接受了。

第Ⅰ類錯(cuò)誤