A.單面反射法
B.單面?zhèn)鞑シ?br />
C.雙面透過法
D.相位反轉(zhuǎn)法
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.外力擊打產(chǎn)生
B.物體內(nèi)部破損產(chǎn)生
C.自然產(chǎn)生
D.共鳴產(chǎn)生
A.接觸法
B.液浸法
C.空氣耦合法
D.嵌入法
A.跨中截面最大負(fù)彎矩
B.跨中截面最大正彎矩
C.跨中截面最大剪力
D.支點(diǎn)（附近）截面最大剪力
E.1/4跨截面最大剪力
A.應(yīng)力（應(yīng)變）
B.結(jié)構(gòu)變位
C.沖擊系數(shù)
D.支點(diǎn)沉降（變形）
E.裂縫
A.技術(shù)狀況等級為一、二類
B.擬提高荷載等級
C.需要通過特殊重型車輛荷載
D.遭受重大自然災(zāi)害或意外事件
E.采用其他方法難以準(zhǔn)確判斷其能否承受預(yù)定的荷載
最新試題
超差缺陷是否排除，由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測。
X射線探傷室應(yīng)建立健全輻射安全管理制度及應(yīng)急預(yù)案。
下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中，錯(cuò)誤的是（）。
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工（如校形、修刮、重熔等），否則應(yīng)重新申請進(jìn)行X射線檢測。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量，因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管，影響其阻抗變化的因素有（）
在射線照相檢驗(yàn)中，隨著射線能量的提高，得到的圖像不清晰度也將增大。
觀察底片時(shí)，為能識別缺陷圖像，缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識別閾值。
底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測報(bào)告副本、檢測報(bào)告等及臺帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
對焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品，工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定，檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn)，檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn)，否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。