A.始波占寬
B.阻塞時(shí)間
C.檢測(cè)靈敏度
D.探測(cè)面的表面粗糙度
E.以上都是
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A.近場(chǎng)效應(yīng)影響
B.儀器的阻塞時(shí)間影響
C.探頭的始波占寬度影響
D.以上都是
A.較低頻率探頭
B.較粘的耦合劑
C.軟保護(hù)膜探頭
D.以上都是
A.底反射降低或消失
B.較高的“雜波”或噪聲顯示
C.穿透力降低
D.以上都是
最新試題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。