A.繼電器輸出
B.晶體管輸出
C.晶閘管輸出
D.半導體輸出
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.PLC主要由硬件系統(tǒng)與軟件系統(tǒng)組成
B.PLC采用循環(huán)掃描工作方式
C.當PLC處于停狀態(tài)時,不進行內(nèi)部處理和通信服務(wù)等內(nèi)容
D.梯形圖程序按先左后右,先上后下的步序,逐句掃描和執(zhí)行
A.輸入掃描
B.指令編譯
C.程序執(zhí)行
D.輸出刷新
A.系統(tǒng)ROM
B.系統(tǒng)RAM
C.用戶ROM
D.用戶RAM
A.中央處理器(CPU)
B.存儲器
C.輸入輸出接口
D.顯示器
A.系統(tǒng)程序存儲區(qū)
B.過程數(shù)據(jù)存儲區(qū)
C.用戶程序存儲區(qū)
D.系統(tǒng)RAM存儲區(qū)(包括I/O映像區(qū)和系統(tǒng)軟設(shè)備等)
最新試題
控制系統(tǒng)中通常使用信號隔離的方法來降低外界信號的干擾,其主要類型包括哪些()。
以下關(guān)于傳導干擾說法錯誤的是()。
現(xiàn)場儀表施工方案的編寫,是在()之后進行的。
下列不屬于編寫儀表檢修作業(yè)風險分析要求的是哪一項()。
()不是儀表檢修施工方案的重點。
儀表工程項目交接驗收的前提條件錯誤的是()。
()不屬于儀表施工準備階段的物資準備。
以下不屬于儀表系統(tǒng)調(diào)試和投運方案組成部分的是()。
ESD因果邏輯圖主要用于()。
在儀表調(diào)試中,()是對儀表性能、儀表管道和儀表線路連接正確性的全面試驗,目的在于對儀表和控制系統(tǒng)的設(shè)計質(zhì)量、設(shè)備材料質(zhì)量和安裝質(zhì)量進行全面的檢查,確認儀表工程質(zhì)量符合生產(chǎn)運行使用要求。