A.發(fā)散
B.聚焦
C.折射
D.透射
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A、縱波圓周掃查
B、橫波圓周掃查
C、縱波軸向掃查
D、橫波軸向掃查
A.距離—dB曲線法
B.面板曲線法
C.對(duì)比試塊法
D.以上都是
A.余高
B.單面焊的墊板
C.焊道上的溝槽
D.以上都有可能
A.時(shí)間軸的調(diào)整不正確
B.探頭折射角存在偏差
C.界面處發(fā)生波型轉(zhuǎn)換
D.以上都有可能
A.1.5in
B.1.0in
C.2.0in
D.2.25in
最新試題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
()是影響缺陷定量的因素。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。