A.對(duì)檢測(cè)的缺陷進(jìn)行準(zhǔn)確的定位
B. 對(duì)檢測(cè)的缺陷進(jìn)行準(zhǔn)確的定量
C.準(zhǔn)確判定焊縫根部反射波
D. 準(zhǔn)確判定結(jié)構(gòu)反射波和缺陷波
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A. 校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)
B. 檢測(cè)人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí)
C. 連續(xù)工作4h以上或工作結(jié)束時(shí)
D. 以上都對(duì)
A. 水平線性≤2%
B. 垂直線性≤4%
C. 直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力不小于20dB
D. 儀器至少在顯示屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示
A. φ2×20-16dB
B. φ2×20-13dB
C. φ2×20-10dB
D. φ2×20-7dB
A. GS-1
B. GS-2
C. GS-3
D. GS-4
A.探頭前沿短
B. 折射角大
C. 晶片面積小、
D. 以上同時(shí)考慮
最新試題
用2.5P14Z探頭探測(cè)某鍛件,發(fā)現(xiàn)在100mm深處有一個(gè)Φ6當(dāng)量平底孔缺陷,根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)評(píng)幾級(jí)?
用5P10×12K2.5探頭,檢測(cè)板厚T = 20 mm 的鋼對(duì)接焊接接頭,掃描時(shí)基線按水平1:1調(diào)節(jié),檢測(cè)時(shí),水平刻度40和70mm處各發(fā)現(xiàn)缺陷波一個(gè),試分別求這兩個(gè)缺陷的深度?
用2.5P20Z探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件,鋼中CL=5900m/s , 衰減系數(shù)α2= 0.01dB/mm , (1)如用試塊(衰減可忽略)上的深200mm ,Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處檢測(cè)靈敏度(400/Ф2),兩者的波高差為多少? (2)如果用厚度為200mm的試塊(鍛件與試塊衰減系數(shù)相同,耦合差為5dB)底波調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度(400/Ф2),兩者反射波高差為多少?
用單斜探頭直接接觸法檢測(cè)φ400×48mm無(wú)縫鋼管,求能夠檢測(cè)到管內(nèi)壁探頭的最大K值?
用CSK-IA 試塊測(cè)定斜探頭和儀器的分辨力,現(xiàn)測(cè)得臺(tái)階孔Ф50、Ф44 反射波等高時(shí)波峰高h(yuǎn)1=80% ,h2=25% ,求分辨力為多少?
用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚500mm的工件,CL=5900m/s , 檢測(cè)中在200mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷, 其波高比底波低12dB , 求此缺陷的當(dāng)量大???
面積為1×1m2的鋼板超聲檢測(cè),發(fā)現(xiàn)有以下缺陷:指示長(zhǎng)度為90mm面積80cm2的缺陷4個(gè), 指示長(zhǎng)度為75mm,面積50cm2的缺陷3個(gè);指示長(zhǎng)度為50mm 面積12cm2的缺陷5個(gè);各缺陷間距均大于100mm,試根JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)判別鋼板等級(jí)。
在厚度T=200mm的試塊上校準(zhǔn)縱波掃描速度,若B2對(duì)準(zhǔn)50 , B4對(duì)準(zhǔn)100 。計(jì)算這時(shí)的掃描速度為多少?此時(shí)B1、B3分別對(duì)準(zhǔn)的水平刻度值為多少?
用2.5P14Z探頭檢測(cè)某鍛件,發(fā)現(xiàn)在50mm深處有一缺陷引起的底波降低量為18dB,另一處密集區(qū)缺陷面積為 100cm2,檢測(cè)總面積為0.5米×0.5米,同時(shí)發(fā)現(xiàn)一單個(gè)缺陷,當(dāng)量為Φ4+10dB,試根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定此鍛件等級(jí)。
用2.5P14Z直探頭檢測(cè)外徑1100mm,壁厚200mm筒形鋼鍛件 CL= 5900m/s 。 在內(nèi)壁作徑向檢測(cè)時(shí), 如何用外壁曲面回波調(diào)節(jié)Ф=2mm檢測(cè)靈敏度?