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雙晶探頭只能用于縱波檢測(cè)。
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判斷題
縱波雙晶直探頭檢測(cè)工件時(shí),對(duì)位于菱形聲束會(huì)聚區(qū)內(nèi)缺陷的檢測(cè)靈敏度高。
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雙晶直探頭由于延遲塊的存在,避免了始脈沖引起的盲區(qū)問題,可以檢測(cè)近表面缺陷和進(jìn)行薄板檢測(cè)。
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