一般情況下，地質(zhì)界線投影時(shí)，常用壁下、壁頂、坑頂3個(gè)投影繪圖點(diǎn)，這3個(gè)點(diǎn)基本上可以控制（）及坑頂兩個(gè)面上的地質(zhì)要素的基本形態(tài)。

礦體分層厚度及夾石剔除厚度，以設(shè)計(jì)或該礦種勘查規(guī)范推薦的工業(yè)指標(biāo)為準(zhǔn)，凡圖面上（）1mm的礦（化）體層、礦石類型應(yīng)放大表示。

穿脈坑道取樣一般在同一坑壁腰線上連續(xù)采取，礦化不均勻的應(yīng)在兩壁腰線上同時(shí)采取。

地質(zhì)填圖中按照填圖精度要求的觀察路線距離，垂直（或大致垂直）巖層走向布置觀察路線，觀察路線要根據(jù)填圖精度和基巖出露情況考慮點(diǎn)距和線距。

槽、井、坑探取樣，通常為刻槽法，其斷面規(guī)格原則上要進(jìn)行試驗(yàn)確定。

一般情況下，地質(zhì)界線投影時(shí)，常用壁下、壁頂、坑頂（）個(gè)投影繪圖點(diǎn)。

在地質(zhì)編錄中，坡角的上坡標(biāo)記為（）。

礦產(chǎn)資源/儲(chǔ)量估算方法包括傳統(tǒng)幾何法和其他方法。

分礦床勘查類型和確定勘查工程間距時(shí)，應(yīng)依據(jù)主要礦體規(guī)模、主要礦體形態(tài)及內(nèi)部結(jié)構(gòu)、礦床構(gòu)造影響程度、主礦體厚度穩(wěn)定程度和有用組分分布均勻程度等五個(gè)主要地質(zhì)因素來確定。

單工程礦體的圈定主要依據(jù)邊界品位、最低工業(yè)品位、有害組分平均允許最高含量、夾石剔除厚度、最小可采厚度或最低工業(yè)米*百分值（米*克/噸值）等綜合考慮，同時(shí)應(yīng)注意礦體的劃分問題。