A.過程打點(diǎn)可能出界
B.過程打點(diǎn)不會出界
C.過程打點(diǎn)一定出界
D.以上都有可能
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A.過程一定處于統(tǒng)計(jì)受控狀態(tài)
B.過程一定沒有特殊原因
C.過程可能有特殊原因
D.以上都對
A.多個
B.單獨(dú)
C.成對
A.檢驗(yàn)一個樣本是否來自正態(tài)總體
B.若確定是正態(tài)分布，可估計(jì)正態(tài)均值和正態(tài)標(biāo)準(zhǔn)差
C.可用來檢驗(yàn)一個樣本是否來自對數(shù)正態(tài)分布
D.用來檢驗(yàn)一個樣本是否來自二項(xiàng)分布
A.過程平均是變化的，可能仍處于變化之中
B.測量系統(tǒng)是變化的
C.這個過程是不變的
D.測量系統(tǒng)是不變的
E.只有A和B
F.只有C和D
A.正確
B.錯誤
最新試題
做初始能力研究時(shí)，Cp大于1.33，這臺機(jī)器能力可以接受了。
Ppk（性能指數(shù)，即初期過程的性能指數(shù)）
當(dāng)控制圖中有連續(xù)14點(diǎn)交替升降時(shí)，說明過程處于（）
1924年，美國的品管大師休哈特（W.A.Shewhart）博士提出將3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過程當(dāng)中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”（亦稱為：Shewhart控制圖或3σ控制圖。即：一種以實(shí)際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗(yàn)所分析的過程能力的控制界限比較，而以時(shí)間順序表示出來的圖形）。通過對過程變差進(jìn)行控制，為統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。
SPC
我們的子組容量都是4。
正確使用統(tǒng)計(jì)技術(shù)，能達(dá)到早期預(yù)防或及時(shí)提出矯正措施并得以及時(shí)改善的目的。
重要過程事件（如工具變更，機(jī)器修理等）須摘記于相應(yīng)之控制圖及/或直方圖上。
當(dāng)控制計(jì)劃要求對相關(guān)工序尺寸進(jìn)行SPC統(tǒng)計(jì)過程控制時(shí)，公司相關(guān)部門進(jìn)行圖控制并進(jìn)行過程能力研究。
變差