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A.3m以內(nèi)深層土壤的采樣間隔為0.5m
B.3m到6m 采樣間隔為1m
C.6m至地下水采樣間隔為1.5m
D.6m至地下水采樣間隔為2m
A.揮發(fā)性有機(jī)物污染
B.重金屬污染
C.易分解有機(jī)物污染
D.惡臭污染
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表層土壤樣品的采集一般采用挖掘方式進(jìn)行,一般采用鍬、鏟及竹片等簡單工具,也可進(jìn)行鉆孔取樣。
根據(jù)《土壤環(huán)境監(jiān)測技術(shù)規(guī)范》(HJ/T 166-2004),對于城市土壤,一般分三層采樣:表層(0~20cm),中層(20~60cm),深層(60~100cm)。
《土壤環(huán)境質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)》(GB15618-1995)規(guī)定的重金屬項(xiàng)目二級標(biāo)準(zhǔn)值與土壤pH值無關(guān)。
蛇形法適宜于面積較大、土壤不夠均勻且地勢不平坦的地塊,多用于農(nóng)業(yè)污染型土壤。
根據(jù)《土壤環(huán)境監(jiān)測技術(shù)規(guī)范》(HJ/T 166-2004),進(jìn)行區(qū)域土壤環(huán)境背景監(jiān)測時(shí),一般采集柱狀樣品。
根據(jù)《土壤環(huán)境監(jiān)測技術(shù)規(guī)范》(HJ/T 166-2004),對于種植一般農(nóng)作物的農(nóng)田,進(jìn)行土壤環(huán)境監(jiān)測時(shí)應(yīng)采集耕作層0~20cm土樣。
根據(jù)《土壤環(huán)境監(jiān)測技術(shù)規(guī)范》(HJ/T 166-2004),進(jìn)行區(qū)域土壤環(huán)境背景監(jiān)測時(shí),若需采集土壤剖面樣,應(yīng)自上而下采集樣品。
根據(jù)《場地環(huán)境監(jiān)測技術(shù)導(dǎo)則》(HJ 25.2-2014),對于()的場地 ,可根據(jù)場地的形狀采用系統(tǒng)隨機(jī)布點(diǎn)法。
根據(jù)《土壤環(huán)境監(jiān)測技術(shù)規(guī)范》(HJ/T 166-2004),土壤背景值是指很少受人類活動影響和不受或未明顯受現(xiàn)代工業(yè)污染與破壞時(shí),土壤原來固有的化學(xué)組成的元素含量水平。
根據(jù)《土壤環(huán)境監(jiān)測技術(shù)規(guī)范》(HJ/T 166-2004),農(nóng)田土壤采樣時(shí),固體廢物堆污染型土壤監(jiān)測單元以污染源為中心均勻布點(diǎn)。