A. 打掃后采集表層5 cm土樣
B. 打掃后采集表層20 cm土樣
C. 采樣點(diǎn)數(shù)不少于3個(gè)
D. 采樣點(diǎn)數(shù)不少于5個(gè)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A. 大氣污染型土壤監(jiān)測(cè)單元采用均勻布點(diǎn)
B. 固體廢物堆污染型土壤監(jiān)測(cè)單元以污染源為中心放射狀布點(diǎn)
C. 農(nóng)用化學(xué)物質(zhì)污染型土壤監(jiān)測(cè)單元以污染源為中心放射狀布點(diǎn)
D. 綜合污染型土壤監(jiān)測(cè)單元布點(diǎn)采用綜合放射狀、均勻、帶狀布點(diǎn)法
A.采樣時(shí)間
B.采樣地點(diǎn)
C.監(jiān)測(cè)項(xiàng)目
D.采樣深度
A. 采樣點(diǎn)選在地形相對(duì)平坦、穩(wěn)定、植被良好的地點(diǎn)
B. 城鎮(zhèn)、住宅、道路、溝渠、糞坑、墳?zāi)垢浇忍幉灰嗽O(shè)采樣點(diǎn)
C. 采樣點(diǎn)離鐵路、公路至少200m以上
D. 在水土流失嚴(yán)重處設(shè)采樣點(diǎn)
A. 面積較小的土壤污染調(diào)查
B. 面積較大的土壤污染調(diào)查
C. 突發(fā)性土壤污染事故調(diào)查
D. 持續(xù)性土壤污染事故調(diào)查
A. 簡(jiǎn)單隨機(jī)
B. 分塊隨機(jī)
C. 抽簽隨機(jī)
D. 系統(tǒng)隨機(jī)
最新試題
根據(jù)《土壤環(huán)境監(jiān)測(cè)技術(shù)規(guī)范》(HJ/T 166-2004),進(jìn)行區(qū)域土壤環(huán)境背景監(jiān)測(cè)時(shí),若需采集土壤剖面樣,應(yīng)自上而下采集樣品。
根據(jù)《場(chǎng)地環(huán)境監(jiān)測(cè)技術(shù)導(dǎo)則》(HJ 25.2-2014),場(chǎng)地環(huán)境調(diào)查初步采樣監(jiān)測(cè)采樣深度應(yīng)扣除地表非土壤硬化層厚度,原則上建議(),具體間隔可根據(jù)實(shí)際情況適當(dāng)調(diào)整。
假如場(chǎng)地土壤污染特征不明確或場(chǎng)地原始狀況嚴(yán)重破壞,可采用系統(tǒng)隨機(jī)布點(diǎn)法進(jìn)行監(jiān)測(cè)點(diǎn)位布設(shè)。
根據(jù)《土壤環(huán)境監(jiān)測(cè)技術(shù)規(guī)范》(HJ/T 166-2004),進(jìn)行區(qū)域土壤環(huán)境背景監(jiān)測(cè)時(shí),一般采集柱狀樣品。
《土壤環(huán)境質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)》(GB15618-1995)中將土壤環(huán)境質(zhì)量劃分為三類。
根據(jù)《土壤環(huán)境監(jiān)測(cè)技術(shù)規(guī)范》(HJ/T 166-2004),綜合污染型土壤監(jiān)測(cè)單元布點(diǎn)采用綜合放射狀、均勻、帶狀布點(diǎn)法。
根據(jù)《突發(fā)環(huán)境事件應(yīng)急監(jiān)測(cè)技術(shù)規(guī)范》(HJ 589-2010),對(duì)于突發(fā)性土壤污染事故調(diào)查,也需進(jìn)行樣品的前期采集與現(xiàn)場(chǎng)調(diào)查,從而制定監(jiān)測(cè)方案。
根據(jù)《土壤環(huán)境監(jiān)測(cè)技術(shù)規(guī)范》(HJ/T 166-2004),梅花點(diǎn)法適用于面積較小、地勢(shì)平坦、土壤不夠均勻的地塊。
根據(jù)《場(chǎng)地環(huán)境監(jiān)測(cè)技術(shù)導(dǎo)則》(HJ 25.2-2014),對(duì)于()的場(chǎng)地 ,可根據(jù)場(chǎng)地的形狀采用系統(tǒng)隨機(jī)布點(diǎn)法。
根據(jù)《土壤環(huán)境監(jiān)測(cè)技術(shù)規(guī)范》(HJ/T 166-2004),對(duì)于城市土壤,一般分三層采樣:表層(0~20cm),中層(20~60cm),深層(60~100cm)。