A.低通濾波器
B.高通濾波器
C.帶通濾波器
D.帶阻濾波器
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A.采樣
B.保持
C.量化
D.編碼
A.數(shù)字濾波器
B.電信號(hào)濾波器
C.模擬濾波器
D.頻率濾波器
A.L波
B.P波
C.S波
D.R波
A.SR波
B.SH波
C.SV波
D.SL波
A.波速能夠達(dá)到的最大值
B.物體振動(dòng)時(shí)能達(dá)到的最大位移的絕對(duì)值
C.簡(jiǎn)諧運(yùn)動(dòng)的振幅是可以改變的
D.振幅和周期存在比例關(guān)系
最新試題
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。
對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí),就可采用多膠片技術(shù)。
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。
超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請(qǐng)、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測(cè)。
在射線照相檢驗(yàn)中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。
下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯(cuò)誤的是()。
X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。
底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
對(duì)于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫,采用的透照方式為()。