A.測(cè)試質(zhì)量
B.測(cè)試覆蓋
C.測(cè)試性能
D.測(cè)試路徑
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.測(cè)試日志
B.測(cè)試事件報(bào)告
C.測(cè)試總結(jié)報(bào)告
D.漏洞追查報(bào)告
A.計(jì)劃進(jìn)度和實(shí)際進(jìn)度對(duì)照表
B.測(cè)試策略
C.定義被測(cè)試對(duì)象和測(cè)試目標(biāo)
D.尚未解決的問(wèn)題和障礙
A.硬件
B.數(shù)據(jù)
C.性能
D.功能
A.資源配置
B.測(cè)試策略
C.組裝方式
D.工具
A.hert
B.hrfe
C.href
D.hfer
最新試題
以下哪項(xiàng)測(cè)試是將所有單元組裝成模塊,測(cè)試各部分工作是否達(dá)到相應(yīng)技術(shù)指標(biāo)級(jí)的活動(dòng)()
若按用戶(hù)要求分,軟件測(cè)試可分為()
TestManager哪個(gè)窗口用于顯示執(zhí)行結(jié)果()
下面關(guān)于錯(cuò)誤推測(cè)法說(shuō)法錯(cuò)誤的是()
基本路徑測(cè)試法中程序環(huán)境復(fù)雜性的含義是()
以下不屬于黑盒測(cè)試發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤類(lèi)型的是()
下面關(guān)于判定表規(guī)則及規(guī)則合并描述錯(cuò)誤的是()
下面哪項(xiàng)不屬于系統(tǒng)測(cè)試的主要目標(biāo)()
在白盒測(cè)試法中,應(yīng)保證一個(gè)模塊中所有獨(dú)立路徑至少被測(cè)試幾次()
白盒測(cè)試的目的不包括()