熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對測試結果沒有影響。

孔徑半角越小，衍射效應所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

在體心點陣中，當（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。

熱分析技術中，試樣用量越多，熱效應大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導致峰形擴大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

1887年，Hertz建立了XPS技術的理論模型。

與光鏡呈像相比，掃描電鏡圖像立體感強，形態(tài)逼真，這是由于掃描電鏡的（）比光鏡大100-500倍。

拉曼光譜分析時，1500cm-1以上的譜帶必定是一個基團的頻率，解釋通常是可靠的，一般可以確信其推論。

在熱分析技術中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。