A.縱波折射角
B.橫波折射角
C.縱波入射角
D.橫波反射角
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A.重復(fù)頻率
B.晶片振動頻率
C.回波頻率
D.電源頻率
A.能更準(zhǔn)確地測量缺陷高度
B.能更準(zhǔn)確地測量缺陷長度
C.更有利于發(fā)現(xiàn)和判斷上表面附近的缺陷
D.更有利于發(fā)現(xiàn)和判斷底面附近的缺陷
A.二次波檢測可以解決焊縫余高過寬影響探頭設(shè)置的困難
B.二次波檢測可以解決直通波盲區(qū)造成的近表面裂紋漏檢
C.二次波檢測以二次反射表面產(chǎn)生的波作為底面波
D.二次波檢測時探頭間距不能太大,以確?;夭ㄔ诘撞úㄐ娃D(zhuǎn)換之前到達(dá)
A.采用的TOFD和脈沖反射法組合檢測
B.檢測筒體縱焊縫時從內(nèi)表面掃查
C.檢測筒體環(huán)焊縫時從內(nèi)表面掃查
D.從內(nèi)表面和外表面進(jìn)行兩次掃查
A.提高缺陷長度測量的精度
B.增大有效檢測范圍
C.消除底面焊縫成形不良的影響
D.有利于發(fā)現(xiàn)焊縫中的橫向缺陷
最新試題
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為()
對于平行于檢測面的缺陷,一般采用()檢測。
發(fā)生康普頓散射的條件是()
通常所謂20KV的X射線是指()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
對軸類鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時,該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()
射線照片上一個細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識別出來,最主要的是決定于()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()