A.聲速測(cè)井和聲波時(shí)差測(cè)井
B.聲波幅度測(cè)井和聲波頻率測(cè)井
C.聲速測(cè)井和聲幅測(cè)井
D.聲速測(cè)井和聲波頻率測(cè)井
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A.切變模量
B.泊松比
C.體積模量
D.楊氏模量
A.巖性
B.地質(zhì)年代
C.埋藏深度
D.電阻率
A.縱波
B.橫波
C.面波
D.反射波
A.縱波
B.橫波
C.面波
D.反射波
A.判斷油氣水層
B.求地層孔隙度
C.確定地層電阻率
D.劃分儲(chǔ)層
最新試題
微電阻率成像測(cè)井無效(壞)電極數(shù)不應(yīng)超過()。
脈沖中子能譜測(cè)井儀的主要用途是什么?
利用多極子聲波測(cè)井可以更好地獲得硬地層和軟地層的縱波、橫波和()等特征參數(shù)。
超聲波成像測(cè)井的影響因素為工作頻率、()、測(cè)量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。
在薄互層中,泥漿侵入對(duì)井壁微電阻率掃描成像測(cè)量響應(yīng)的影響較之厚層()。
核磁共振弛豫受三種機(jī)制控制:表面弛豫、體積弛豫和()。
微電阻率成像三井徑曲線變化正常,除橢圓井眼外,在井眼規(guī)則處應(yīng)()。
多極子陣列聲波測(cè)井的重復(fù)測(cè)井與主測(cè)井的波列特征應(yīng)相似,縱波時(shí)差重復(fù)曲線與主測(cè)井曲線形狀相同,重復(fù)測(cè)量值相對(duì)重復(fù)誤差應(yīng)小于()。
井壁微電阻率掃描成像儀極板和井壁的間隙增大會(huì)()儀器的垂向分辨率。
VSP 測(cè)井是一種高分辨率的()勘探技術(shù)。