問答題簡述X光電子能譜分析的基本原理。
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X射線衍射儀中,通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖,常用于精確測定衍射峰的積分強度和位置的掃描方式為()。
題型:單項選擇題
透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)()的位置來實現(xiàn)的。
題型:單項選擇題
掃描電鏡的二次電子像中,樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子,在熒光屏上這些部位的亮度較大。
題型:判斷題
利用電子探針的波譜儀,一個分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的,因此一個分光晶體只能檢測一定原子序數(shù)范圍的元素。
題型:判斷題
掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。
題型:判斷題
電子探針的能譜儀和波譜儀比較,波譜儀()。
題型:多項選擇題
在熱分析技術(shù)中,利用程序溫控裝置,可以升溫、降溫,但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。
題型:判斷題
電子探針和X射線衍射儀一樣,都可以直接確定材料中所包含的物相。
題型:判斷題
每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu),晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。
題型:判斷題
當?shù)挂浊蚺c反射球相交,交線是一個圓環(huán),環(huán)上每一點都滿足衍射條件,可以產(chǎn)生衍射。
題型:判斷題