P圖控制法適用于對所有的計數(shù)型數(shù)據(jù)做統(tǒng)計過程控制。

Ppk（性能指數(shù)，即初期過程的性能指數(shù)）

Xbar

在“3σ”原則下，控制點落在µ-3σ到µ+3σ之間的概率是（）

當(dāng)過程能力不足時，為提高過程能力，應(yīng)進(jìn)一步減小普通原因和特殊原因造成的變差。

控制計劃規(guī)定的特殊特性應(yīng)做統(tǒng)計過程控制—SPC。

特殊特性

重要過程事件（如工具變更，機器修理等）須摘記于相應(yīng)之控制圖及/或直方圖上。

1924年，美國的品管大師休哈特（W.A.Shewhart）博士提出將3Sigma原理運用于生產(chǎn)過程當(dāng)中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”（亦稱為：Shewhart控制圖或3σ控制圖。即：一種以實際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗所分析的過程能力的控制界限比較，而以時間順序表示出來的圖形）。通過對過程變差進(jìn)行控制，為統(tǒng)計質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。

Cpk（穩(wěn)定過程的能力指數(shù)）