（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

（）是影響缺陷定量的因素。

底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。

當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。

超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。

測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

單探頭法容易檢出（）。