方圈法測(cè)量無(wú)取向電工鋼，組成試樣的樣片數(shù)應(yīng)是（）的倍數(shù)。

埃里克森杯突值IE為所有測(cè)量值的（），單位mm。

沖擊試樣的缺口方向是指（）。

單片法測(cè)量無(wú)取向電工鋼，試樣基準(zhǔn)方向與軋制方向的夾角允許有下述公差：取向硅鋼片為（）。

在產(chǎn)品不同位置取樣時(shí)，力學(xué)性能（）。

奧氏體晶粒度的腐蝕可用（）的鹽酸酒精。

鍍層質(zhì)量檢驗(yàn)中，鋼板或鋼帶試樣直徑或邊長(zhǎng)的測(cè)定至少準(zhǔn)確到（）mm。

如斷裂后檢查顯示出試樣標(biāo)記是在明顯的變形部位，試驗(yàn)結(jié)果（）表材料的性能。

硫印檢驗(yàn)是用硫酸溶液浸泡過(guò)的相紙緊密接觸鋼的檢驗(yàn)面，檢驗(yàn)面析出的硫化氫使感光乳劑的鹵化銀轉(zhuǎn)變?yōu)榱蚧y而（），顯示出硫的富集區(qū)域。

先用一種大于彎心直徑的壓頭直接進(jìn)行壓彎，然后再墊上與彎心直徑大小相同的墊板壓至試樣兩面平行的方法稱（）。