A.橫波質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向有利于缺陷反射
B.橫波檢測(cè)雜波小
C.橫波波長(zhǎng)短
D.橫波指向性好
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A.反射波高隨粗糙度的增大而增加
B.無(wú)影響
C.反射波高隨粗糙度的增大而下降
D.以上A和C都可能
A.發(fā)現(xiàn)較小的缺陷
B.區(qū)分開(kāi)相鄰的缺陷
C.改善聲束指向性
D.以上全部
A.較低頻率探頭
B.較粘的耦合劑
C.軟保護(hù)膜探頭
D.以上都對(duì)
A.脈沖反射法
B.衍射時(shí)差法
C.穿透法和共振法
D.以上都是
A.平底孔
B.V形槽
C.橫通孔
D.柱孔
最新試題
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為（）。
單探頭法容易檢出（）。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。