底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。

二次打底焊接或重熔排除，無需辦理相關(guān)手續(xù)，直接使用前次的申請手續(xù)。

一次完整的兩面多層補(bǔ)焊，當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過一次X射線檢測，若反面還需打底，則無需X射線檢測。

缺陷分類應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求，標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷，必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考，但不作為合格與否判定的依據(jù)。

下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中，錯誤的是（）。

焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是（）。

為了提高射線照相對比度，可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。

提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家（）

增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量，因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。

按輻射安全管理規(guī)定，輻射作業(yè)場所每周應(yīng)進(jìn)行一次輻射劑量檢測。