A.探頭壓電晶片是一個整體
B.通過改變延時間隔，可以改變聲束焦距長度
C.不適用于復雜工件的檢測
D.不能進行扇形掃描
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A.缺陷回波法、底波高度法和多次底波法
B.直射波法、斜射波法和衍射時差法
C.一次波法、一次反射法和板波法
D.以上都對
A.與波速無關
B.與工件厚度有關
C.與探頭中心間距有關
D.與檢測聲波頻率有關
A.平行于探測面的缺陷
B.與探測面傾斜的缺陷
C.垂直于探測面的缺陷
D.不能用斜探頭檢測的缺陷
A.工件中有小而密集的缺陷
B.工件中有局部晶粒粗大區(qū)域
C.工件中有疏松缺陷
D.以上都有可能
A.反射率高，波幅高，探頭左右移動時波形穩(wěn)定
B.從焊縫兩側(cè)檢測時，反射波高大致相當
C.當探頭做定點轉(zhuǎn)動時，波幅高度下降速度較快
D.以上全部
最新試題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。
利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術要求或有關標準來確定。
當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。