直接射向缺陷的波就是（）

采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。

缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。

渦流檢測中的對比試樣的（）和材質(zhì)相對被檢測產(chǎn)品必須具有代表性。

渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的（）

對于長條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。

在聲束垂直試件表面時，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。

當(dāng)波束中心線與缺陷面（）且回波最（）時，移動探頭使波束中心（），回波高度當(dāng)隨之下降。

對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。

渦流檢測線圈是在被檢測導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵產(chǎn)生（）