A.單晶直探頭反射法
B.透射法
C.雙晶直探頭反射法
D.以上都是
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A.可以精確調(diào)節(jié)或改變聲束角度
B.便于實(shí)現(xiàn)聚焦聲束檢測
C.便于實(shí)現(xiàn)快速或自動檢測
D.以上都是
A.由粗糙表面引起的聲能損失較小
B.表面盲區(qū)較小
C.人為因素影響較小
D.以上都是
A.經(jīng)工件返回的聲能損失較大
B.不適用于檢測形狀復(fù)雜的零件
C.不易保持穩(wěn)定的耦合
D.以上都是
A.操作簡便，適用于局部或現(xiàn)場檢測
B.聲能損失較少，可以提供較大的穿透能力
C.相同條件下，可提供更高的檢測靈敏度
D.以上都是
A.檢測大厚度零件，選擇較低的頻率是為了減少表面散射損耗
B.檢測小厚度零件，選擇較高的頻率是為了提高分辨力
C.檢測晶粒粗大零件，選擇較低的頻率是為了提高小缺陷檢測能力
D.以上都正確
最新試題
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進(jìn)行（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯誤的是（）。
調(diào)節(jié)時基線時，應(yīng)使（）同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。