A.釋放過程
B.裂變過程
C.衰變
D.聚變
E.散射
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A.β+衰變
B.β-衰變
C.γ衰變
D.電子俘獲
E.α衰變
A.陽性結(jié)果預(yù)測(cè)值
B.陰性結(jié)果預(yù)測(cè)值
C.準(zhǔn)確性
D.假陽性率
E.假陰性率
A.0.5m
B.1.0m
C.1.5m
D.2.0m
E.3.0m
A.地板與墻壁連接處無縫隙且光滑易清洗
B.需設(shè)通風(fēng)設(shè)備
C.需設(shè)特殊下水系統(tǒng)
D.需設(shè)清洗去污設(shè)備
E.以上均是
A.50～5000MBq
B.500～50000MBq
C.5000～500000MBq
D.50～50000MBq
E.500～500000MBq
最新試題
關(guān)于NaI（Tl）晶體閃爍探測(cè)器，正確說法是（）。
評(píng)價(jià)閃爍體性能的主要指標(biāo)沒有（）。
在測(cè)量放射性樣品的計(jì)數(shù)時(shí)，測(cè)量結(jié)果圍繞平均值的變化稱為（）。
具有相同的質(zhì)量數(shù)和原子序數(shù)，但核能態(tài)不同的一類核素稱為（）。
當(dāng)母核的半衰期是子核半衰期的30倍時(shí)，可出現(xiàn)（）。
SPECT對(duì)哪些方面的要求高于常規(guī)γ照相機(jī)（）。
感興趣區(qū)分析不能獲得下列哪一項(xiàng)數(shù)據(jù)。（）
單位質(zhì)量或容積的物質(zhì)或制劑內(nèi)的放射性活度，簡(jiǎn)稱為（）。
SPECT斷層均勻性測(cè)試的頻度為（）。
光電峰的另一個(gè)名稱是（）。