圖所示的標(biāo)準(zhǔn)試件可用來(lái)測(cè)定()。
A.分辨率
B.靈敏度
C.邊緣效應(yīng)
D.厚度效應(yīng)
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下圖所示的標(biāo)準(zhǔn)試件可用來(lái)測(cè)定()。
A.分辨率
B.靈敏度
C.邊緣效應(yīng)
D.厚度效應(yīng)
A.試件中的變化(如裂紋的存在,金相組織或尺寸的變化)能使二次磁場(chǎng)的相位和振幅發(fā)生變化
B.一次交流電必須是6O周的
C.試件溫度生高
D.Hp(一次磁場(chǎng)強(qiáng)度)和Hs磁場(chǎng)失配使輸出發(fā)生變化
A.導(dǎo)體表面下的渦流最弱
B.導(dǎo)體內(nèi)的渦流相位是變化的
C.渦流沿直線流動(dòng)
D.沿線圈軸線的渦流最大
A.渦流的數(shù)值大于線圈中的電流值
B.渦流受試件磁導(dǎo)率的影響
C.渦流在導(dǎo)體中無(wú)功率消耗
D.以上都不是
A.只包含缺陷信息而不顯示磁場(chǎng)強(qiáng)度的變化
B.不包含串音發(fā)生的信號(hào)
C.不包含電噪聲
D.以上都是
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