在測(cè)量地層電阻率時(shí)，要受（）等因素的影響，測(cè)得的參數(shù)不等于地層的真電阻率，而是被稱為地層的視電阻率。

（）發(fā)育程度不但控制游離相態(tài)頁(yè)巖氣的含量，而且影響著頁(yè)巖氣的運(yùn)移、聚集和單井產(chǎn)量。

X射線衍射儀分析測(cè)定時(shí)的室溫應(yīng)在（）

沉積剖面上，相似的巖性組合的每一個(gè)重復(fù)都叫做一個(gè)（）

膏鹽巖地層在鉆井作業(yè)過(guò)程中經(jīng)常發(fā)生塑性蠕變，膏鹽巖地層中的鹽巖（），膏巖（）

元素分析儀需要的輔助設(shè)備包括（）

對(duì)于重點(diǎn)探井，地質(zhì)錄井技術(shù)員必須具有（）口以上一般探井工作經(jīng)歷，并能獨(dú)立處理和解決特殊及復(fù)雜問(wèn)題。

當(dāng)油氣層射孔后，為保護(hù)油氣層免受壓井液損害，需要盡快（）

通過(guò)起鉆測(cè)后效的氣測(cè)值可反映地層流體的（）

X射線衍射儀的主要用途是（）