A、井底壓力
B、地層壓力
C、環(huán)空液柱壓力
D、管內(nèi)液柱壓力
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你可能感興趣的試題
A、壓井管匯
B、放噴管線
C、節(jié)流管匯
D、防噴管線
A、井口套管抗內(nèi)壓強(qiáng)度的80%
B、套管抗內(nèi)壓強(qiáng)度的80%
C、井口裝置的額定工作壓力
D、地層壓力
A、愈越接近
B、越接近或等于
C、等于
D、遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于
A、高于
B、低于
C、等于
D、遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于
A、關(guān)井
B、壓井
C、節(jié)流循環(huán)
D、控壓放噴
最新試題
LH-XRF4500H元素分析儀真空度不高于()兆帕。
對(duì)于重點(diǎn)探井,地質(zhì)錄井技術(shù)員必須具有()口以上一般探井工作經(jīng)歷,并能獨(dú)立處理和解決特殊及復(fù)雜問題。
當(dāng)油氣層射孔后,為保護(hù)油氣層免受壓井液損害,需要盡快()
()發(fā)育程度不但控制游離相態(tài)頁(yè)巖氣的含量,而且影響著頁(yè)巖氣的運(yùn)移、聚集和單井產(chǎn)量。
深層水平井導(dǎo)向中錄井資料中的()發(fā)揮了重要作用。
在測(cè)量地層電阻率時(shí),要受()等因素的影響,測(cè)得的參數(shù)不等于地層的真電阻率,而是被稱為地層的視電阻率。
綜合錄井技術(shù)應(yīng)用鉆井液的()可幫助地質(zhì)師發(fā)現(xiàn)油氣顯示。
在輕質(zhì)油地區(qū)錄井要注意做到(),嚴(yán)禁高溫烘烤。
X射線衍射儀研磨后的樣品粒徑要小于()
側(cè)向測(cè)井按探測(cè)半徑可分為()