A.(0,a)
B.(a,b)
C.(0,b)
D.(0,0)
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A.t分布的概率密度函數(shù)在整個軸上呈偏態(tài)分布
B.t分布的概率密度函數(shù)在正半軸上呈偏態(tài)分布
C.自由度為n-1的t分布概率密度函數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布N(0,1)的概率密度函數(shù)的圖形大致類似
D.自由度為n-1的t分布概率密度函數(shù)與二項分布b(n,p)的概率密度函數(shù)的圖形大致類似
A.2-2Ф(4)
B.1-Ф(4)
C.2Ф(4)
D.2Ф(4)-1
A.1.5
B.0.05
C.0.225
D.0.15
A.0.33
B.0.25
C.1.0
D.0.02
A.E(X)=10
B.E(X)=9
C.Vax(X)=0.3
D.Vax(X)=0.9
E.Vax(X)=0.3
最新試題
設(shè)隨機(jī)變量Z的分布列為X:135P:0.40.50.1則E(X)為()。
六西格瑪管理中常用的度量指標(biāo)有()。
假設(shè)檢驗的基本步驟包括()。
已知一批電阻的電阻值服從正態(tài)分布,
設(shè)隨機(jī)變量2服從λ=2的泊松分布,則P(X≤2)=()。
一鑄件上的缺陷數(shù)X服從泊松分布,每鑄件上的平均缺陷數(shù)是0.5,則:一鑄件上僅有一個缺陷的概率為()。
設(shè)隨機(jī)變量x服從二項分布b(10,0.9),則其均值與標(biāo)準(zhǔn)差分別為()。
一個n=3的樣本觀測值8.5,10,11.5中樣本變異系數(shù)為()。
抽樣檢驗不適用于()。
下面關(guān)于t分布的說法,正確的有()。